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Scanning Electron Microscope

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Scanning Electron Microscope

SEM具有自动真空工艺,在更换样品时,最佳真空设计仅需3分钟即可达到真空,
同时搭载 Auto control, User Recipe, Navigation功能,可方便使用SEM。

▶ 高性能和合理价格
    PS系列是Tungsten-filament SEM能够打造的最高分辨率
    3.0nm resolution性能,同时以合理的Mini-SEM价格提供给客户。
▶ GUI 最大限度提高用户的便利性
▶ Image Manager
▶ User Recipe
▶ Navigation
▶ Auto Control

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